场效应管及其基本放大电路(上)
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场效应管及其基本放大电路
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| 1结形场效应管 2砷化镓金属-半导体场效应管 3金属-氧化物-半导体场效应管 4场效应管放大电路 5各种放大器件电路性能比较 |
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| 1、 场效应晶体管(FET)
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•分类和结构:
•结型场效应晶体管JFET
•绝缘栅型场效应晶体管IGFET
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结型场效应晶体管JFET
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| 1、 P 沟道和N沟道结构及电路符号 | ||
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2、工作等效(以P沟道为例)
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恒流工作(电压控制电流源)
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截止工作
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JFET的主要参数
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1)夹断电压VP:手册给出是ID为一微小值时的VGS
2)饱和漏极电流IDSS; VGS=0,时的ID
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5)极限参数:
V(BR)DS、漏极的附近发生雪崩击穿。
V(BR)GS、栅源间的最高反向击穿。
PDM 最大漏极允许功耗 ,与三极管类似。
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特性曲线:
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| 与三极管相同,场效应管也有输入和输出的特性曲线。称为转移特性曲线和输出特性曲线。以N型JFET为例: | ||
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| MOSFET
增强型MOSFET 耗尽型MOSFET |
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1、增强型MOS场效应管
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N沟道增强型MOS场效应管结构
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当UGS=0V时,漏源之间相当两个背靠背的PN结,无论UDS之间加上电压不会在D、S间形成电流ID,即ID≈0.
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当UGS>UT时, 沟道加厚,沟道电阻减少,在相同UDS的作用下,ID将进一步增加
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N沟道增强型MOS场效应管特性曲线
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| 转移特性曲线
UDS一定时,UGS对漏极电流ID的控制关系曲线 ID=f(UGS)½UDS=C |
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在恒流区,ID与UGS的关系为 D≈K(UGS-UT)2 |
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沟道较短时,应考虑UDS对沟道长度的调节作用 ID≈K(UGS-UT)2(1+lUDS) |
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增强型MOS管 K—导电因子(mA/V2) l—沟道调制长度系数
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| μn—沟道内电子的表面迁移率 COX—单位面积栅氧化层电容 W—沟道宽度 L—沟道长度 Sn—沟道长宽比 K'—本征导电因子 |
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N沟道增强型MOS场效应管特性曲线
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输出特性曲线 UGS一定时, ID与UDS的变化曲线,是一族曲线 |
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| 1.可变电阻区: ID与UDS的关系近线性ID≈ 2K(UGS-UT)UDS ![]() |
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当UGS变化时,RON将随之变化因此称之为可变电阻区 当UGS一定时,RON近似为一常数因此又称之为恒阻区 |
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输出特性曲线 2. 恒流区: |
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3.击穿区: |
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漏源电压UDS对漏极电流ID的控制作用
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| UDS=UDG+UGS =-UGD+UGS UGD=UGS-UDS |
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| 当UDS为0或较小时,相当 UGD>UT,此时UDS 基本均匀降落在沟道中,沟道呈斜线分布。在UDS作用下形成ID | ||
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漏源电压UDS对漏极电流ID的控制作用
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MOS管衬底的处理 处理原则: 保证两个PN结反偏,源极—沟道—漏极之间处于绝缘态 处理方法: NMOS管—UBS加一负压 PMOS管—UBS加一正压 |
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| 耗尽型MOS场效应管 | ||
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N沟道耗尽型MOS场效应管工作原理 |
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N沟道耗尽型MOS场效应管特性曲线
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输出特性曲线 N沟道耗尽型MOS管可工作在UGS?0或UGS>0 |
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各类绝缘栅场效应三极管的特性曲线
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